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保障薄膜測厚儀探頭長期使用壽命要注意事宜有這幾個關鍵點

更新時間:2021-04-10      點擊次數:963

在維(wei)修探頭(tou)時常常發現(xian)磁芯的(de)磨損(sun)較嚴(yan)重,有的(de)可以說是損(sun)壞(huai)重大。例(li)如(ru)NF頭(tou)的(de)寶石(shi)芯常常破損(sun)掉(diao)碴,F頭(tou)磁芯的(de)弧芯被壓平或(huo)變形等(deng)。 

首先作為探頭(tou)在運用中被(bei)磨損屬(shu)正常現(xian)象(xiang)。但假如用戶依據其特點加以注意,就會延長(chang)其使(shi)用壽(shou)命。 其中普遍(bian)存在的(de)表單是,在測(ce)量時,因為通常都(dou)是向下測(ce)試,運用者往往較(jiao)使(shi)勁向下墩,工夫一長(chang)就很容(rong)易形成測(ce)頭(tou)芯的(de)生效。

正(zheng)確的運用辦法(fa)是將(jiang)探(tan)頭(tou)在被測工件(jian)一(yi)厘(li)米(mi)處時微(wei)(wei)微(wei)(wei)壓向被測外(wai)表,由于探(tan)頭(tou)在設計時曾經內置一(yi)感(gan)應壓力彈簧(huang),只(zhi)需微(wei)(wei)微(wei)(wei)壓下即可(ke)。

 

另一點,探頭(tou)(tou)在重復(fu)挪(nuo)動的進程中,易與其它物體產生磕、碰(peng)、撞,也容易形成測(ce)(ce)頭(tou)(tou)損(sun)壞,所(suo)以假(jia)如(ru)任(ren)務條件允許,可(ke)以將測(ce)(ce)頭(tou)(tou)固(gu)定而(er)將被測(ce)(ce)工件去接(jie)觸探頭(tou)(tou),從而(er)增(zeng)加(jia)探頭(tou)(tou)的磕碰(peng)。 還有一種(zhong)狀況,在測(ce)(ce)量時,每當測(ce)(ce)下一個點一定要將測(ce)(ce)頭(tou)(tou)提(ti)起不可(ke)平拉,以增(zeng)加(jia)磁芯磨(mo)損(sun)。

 

然后一點,測頭一定要遠離(li)強磁場,以(yi)免(mian)扭轉探頭的(de)(de)固有頻率(lv)形成無奈(nai)任務。電火花(hua)檢漏正確的(de)(de)操作運用方**縮(suo)短儀器的(de)(de)運用壽命。 

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