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當使用薄膜測厚儀探頭時你知道哪些細節是關鍵么

更新時間:2021-04-09      點擊次數:933

在維修探頭(tou)(tou)時常(chang)常(chang)發(fa)現磁(ci)芯(xin)的(de)磨損(sun)較嚴重,有的(de)可以(yi)說是損(sun)壞重大(da)。例如NF頭(tou)(tou)的(de)寶石芯(xin)常(chang)常(chang)破損(sun)掉碴,F頭(tou)(tou)磁(ci)芯(xin)的(de)弧芯(xin)被壓平或變(bian)形等。 

首先(xian)作為探頭(tou)在(zai)運(yun)用中被磨損(sun)屬正常現(xian)象。但假如用戶依據其特點加以注意,就會(hui)延長(chang)其使(shi)用壽命(ming)。 其中普(pu)遍存在(zai)的(de)表單是(shi),在(zai)測量(liang)時(shi),因為通常都(dou)是(shi)向(xiang)下測試,運(yun)用者往往較使(shi)勁向(xiang)下墩(dun),工夫一長(chang)就很容易形成(cheng)測頭(tou)芯的(de)生(sheng)效。

正確(que)的(de)運用辦法是將探頭(tou)在(zai)被(bei)測工件一厘米處(chu)時微微壓(ya)向(xiang)被(bei)測外表,由于探頭(tou)在(zai)設計時曾經內(nei)置一感應壓(ya)力彈簧,只需微微壓(ya)下即可。

 

另一點,探頭在重復挪動(dong)的進程中,易(yi)與其(qi)它物體(ti)產生(sheng)磕、碰(peng)(peng)、撞,也(ye)容易(yi)形(xing)成測(ce)(ce)(ce)(ce)頭損壞,所(suo)以(yi)假如任務條件允許,可以(yi)將(jiang)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭固定而將(jiang)被測(ce)(ce)(ce)(ce)工件去接觸探頭,從而增加(jia)探頭的磕碰(peng)(peng)。 還有一(yi)種狀(zhuang)況,在測(ce)(ce)(ce)(ce)量時(shi),每當(dang)測(ce)(ce)(ce)(ce)下一(yi)個點一(yi)定要將(jiang)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭提起不可平拉,以(yi)增加(jia)磁芯磨損。

 

然后一點,測頭一定要遠離強磁(ci)場,以免扭轉探頭的(de)固有頻率形成無奈任務。電火花(hua)檢漏正確(que)的(de)操作運(yun)用(yong)方(fang)**縮短儀(yi)器的(de)運(yun)用(yong)壽命(ming)。 

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