涂層(ceng)測厚儀是(shi)一種便攜式測(ce)(ce)量(liang)儀(yi)，它(ta)能快速、無損傷、精密地進行(xing)涂(tu)、鍍層厚(hou)度的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)；既可(ke)用于實驗室，也可(ke)用于工(gong)程現場；通過使用不(bu)同的(de)(de)測(ce)(ce)頭，還可(ke)滿足多種測(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)需要；廣泛地應(ying)用在制造業(ye)、金屬加工(gong)業(ye)、化工(gong)業(ye)、商(shang)檢等檢測(ce)(ce)領域(yu)；是(shi)材料保(bao)護專業(ye)*的(de)(de)儀(yi)器。由些可(ke)見涂(tu)層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)應(ying)用范圍(wei)是(shi)很廣泛的(de)(de)，由于測(ce)(ce)量(liang)時候(hou)或多少出現偏(pian)差 ，因些儀(yi)器使用時候(hou)是(shi)需要定(ding)時進行(xing)校準的(de)(de)，下面就(jiu)讓小編教大(da)家如(ru)何對該儀(yi)器進行(xing)校準。

那么(me)涂層測厚儀校準方法有哪些(xie)？涂層測厚儀校準方法主要有3種(zhong)方法，分別是系(xi)統校(xiao)準(zhun)(zhun)、兩(liang)點(dian)校(xiao)準(zhun)(zhun)和鐵(tie)基校(xiao)準(zhun)(zhun)三種。在一般情(qing)況下只(zhi)需進(jin)行鐵(tie)基校(xiao)準(zhun)(zhun)即可(ke)進(jin)行準(zhun)(zhun)確(que)測量。當儀器鐵(tie)基與(yu)被測件鐵(tie)基的磁(ci)性和表面粗糙度(du)差(cha)別較大時,可(ke)以(yi)進(jin)行系(xi)統校(xiao)準(zhun)(zhun)以(yi)保證(zheng)測量度(du)。下面我(wo)們(men)就來(lai)詳細介紹涂層測(ce)厚儀(yi)校(xiao)準(zhun)的(de)方法。

1.鐵基校準法(fa)：即儀器標準基(ji)體金屬的磁性和(he)表面(mian)粗糙(cao)度應當與待(dai)測試件(jian)基(ji)體金屬的磁性和(he)表面(mian)粗糙(cao)度相似。為了保證(zheng)測量(liang)的性,可以在測量(liang)測試件(jian)之前先進行鐵基(ji)校(xiao)準。
校準方法:儀器(qi)開機后，先將探頭放在被測(ce)試(shi)件的裸露基體上進(jin)行測(ce)量,測(ce)量兩(liang)次(ci)，測(ce)完(wan)第二(er)次(ci)按(an)住(zhu)探頭不動按(an)下"CAL"鍵(jian)，伴隨著兩(liang)聲蜂(feng)鳴即(ji)可完(wan)成(cheng)鐵(tie)基的校準。如果沒發(fa)出兩(liang)聲蜂(feng)鳴說(shuo)明操作(zuo)有誤，重新(xin)按(an)以上步驟(zou)操作(zuo)直至(zhi)發(fa)出兩(liang)聲蜂(feng)鳴即(ji)可。

2.兩(liang)點校(xiao)準(zhun)(zhun)適用于高精(jing)度(du)測量(liang)及小工件(jian)、淬(cui)火鋼、合金鋼。先校(xiao)準(zhun)(zhun)零點，即(ji)重復零點校(xiao)準(zhun)(zhun)，在厚(hou)度(du)大(da)致等(deng)于預計(ji)的待測覆(fu)蓋(gai)層厚(hou)度(du)的標準(zhun)(zhun)片(pian)上(shang)進行(xing)一次測量(liang)，屏幕(mu)顯(xian)示(shi)<XXXμm>。用上(shang)下(xia)(xia)箭頭(tou)修正讀數，使其達到標準(zhun)(zhun)值。校(xiao)準(zhun)(zhun)已完成，可(ke)以開始測量(liang)了。注(zhu)意：上(shang)下(xia)(xia)鍵校(xiao)準(zhun)(zhun)時，單次按(an)動跳動一個數，長按(an)會連續跳動。而且在測量過程(cheng)當中，如(ru)果發(fa)現個別測量值偏差較大(da)可以(yi)通過兩點校準方法進行調整。
校(xiao)準方法：把(ba)一(yi)個已知厚度的(de)被(bei)測(ce)(ce)試件(jian)作(zuo)為標準樣片進(jin)行測(ce)(ce)量，如果顯示值(zhi)與(yu)真(zhen)實(shi)值(zhi)不一(yi)致(zhi)，可以通過"▲"、"▼"鍵進(jin)行加1或減1操作(zuo)。按(an)住"▲"、"▼"鍵不放可以進(jin)行連續(xu)加、減，直(zhi)到顯示值(zhi)和真(zhen)實(shi)值(zhi)相(xiang)同為止。校(xiao)準完成后即可進(jin)行正常測(ce)(ce)量。
注意:兩點校(xiao)準時選用的(de)被(bei)測試件(jian)厚度不要與系(xi)統校準(zhun)時的五(wu)個樣片(pian)值接(jie)近，否則(ze)操作無效。
當第五(wu)個樣片校(xiao)準完(wan)(wan)成(cheng)后屏幕顯示"0000''，進入(ru)開機界面如圖A，儀器(qi)此時即完(wan)(wan)成(cheng)了系統校(xiao)準過程。以(yi)后就可以(yi)對被測件直接(jie)進行測量。
注(zhu)意：這五個樣片(pian)可(ke)以使用提供的標(biao)準片(pian)也可(ke)以使用已知厚度的樣片(pian)作(zuo)為標(biao)準片(pian)。樣片(pian)校準時要按(an)照由小到大(da)的順序(xu)進行(xing)，相鄰樣片(pian)間應該(gai)有一(yi)定的差(cha)值(zhi)。