作(zuo)為操作(zuo)人員，我(wo)們應(ying)該掌握表面涂層測厚儀的使用(yong)方(fang)法及注意事項(xiang)。

　　(1)在進(jin)(jin)行測(ce)試的(de)(de)時(shi)候要注意標準片基體(ti)的(de)(de)金屬(shu)磁(ci)性(xing)和表(biao)面(mian)粗(cu)糙度(du)應(ying)當與(yu)試件相似。在進(jin)(jin)行測(ce)試的(de)(de)時(shi)候要注意基體(ti)金屬(shu)的(de)(de)臨界厚度(du)，如果大于(yu)這個厚度(du)測(ce)量就(jiu)不受基體(ti)金屬(shu)厚度(du)的(de)(de)影響。

　　(2)在進(jin)行測試的時(shi)候要注意儀(yi)器測頭和被(bei)測試件(jian)的要直接接觸，因(yin)此超聲波測厚儀(yi)在進(jin)行對側頭清除附(fu)著物質。

　　(3)在(zai)測量(liang)的時(shi)候要注意(yi)側頭(tou)與試(shi)樣表(biao)面保持垂(chui)直。在(zai)測量(liang)的時(shi)候要注意(yi)試(shi)件的曲率(lv)對測量(liang)的影響。因此在(zai)彎曲的試(shi)件表(biao)面上測量(liang)時(shi)不可靠的。

　　(4)測量前(qian)要注(zhu)意周圍其他的電器設備會(hui)不會(hui)產生磁(ci)場，如果會(hui)，將會(hui)干(gan)擾磁(ci)性測厚法的測厚儀。

　　(5)測(ce)量(liang)時(shi)要(yao)注(zhu)意不要(yao)在內轉角處和(he)靠近(jin)試(shi)(shi)件(jian)邊緣處測(ce)量(liang)，因為一般(ban)的(de)測(ce)厚儀對試(shi)(shi)件(jian)表(biao)面形狀(zhuang)的(de)忽然變(bian)化很敏感。

　　(6)在(zai)測量(liang)時要(yao)保持壓(ya)力的(de)恒定，否則會(hui)影響測量(liang)的(de)讀數(shu)。

　　哪些因素會影響表面涂層測厚儀的使用呢?操作人員也應(ying)該(gai)有所了解。

　　1. 磁性(xing)法涂層(ceng)測厚儀測量(liang)涂層(ceng)厚度(du)受基體金屬(shu)磁性(xing)變(bian)化的影響，周(zhou)圍(wei)各種(zhong)電(dian)氣設備所產(chan)生(sheng)的強磁場，會嚴重干擾(rao)磁性(xing)測厚工作。

　　2. 為了(le)避免(mian)熱處(chu)理和冷加工因(yin)素的影響，應(ying)使用與試(shi)件基體金屬具(ju)有相(xiang)同性(xing)質的標(biao)準片對儀器進行校準;

　　3. 對(dui)試(shi)件表(biao)面形(xing)狀(zhuang)的(de)(de)陡變敏感，因此在靠近試(shi)件邊緣(yuan)或內(nei)轉(zhuan)角處進行(xing)測量是(shi)不可靠的(de)(de);試(shi)件的(de)(de)曲(qu)(qu)率(lv)對(dui)測量有影響，隨(sui)著曲(qu)(qu)率(lv)半徑的(de)(de)減少明(ming)顯地增大，因此，在彎曲(qu)(qu)試(shi)件的(de)(de)表(biao)面上測量也是(shi)不可靠的(de)(de);

　　4. 探(tan)頭會使軟涂層試件變形(xing)，因此在這些試件上(shang)測(ce)不出(chu)可靠的數據;

　　5. 基(ji)(ji)體(ti)金(jin)屬和(he)涂(tu)層的(de)(de)(de)表(biao)面(mian)(mian)粗(cu)糙度對(dui)測量(liang)有(you)影(ying)響。粗(cu)糙度增大，影(ying)響增大，粗(cu)糙表(biao)面(mian)(mian)會引起系統誤差和(he)偶(ou)然誤差，每次測量(liang)時，在不同的(de)(de)(de)位(wei)置上(shang)應增加測量(liang)的(de)(de)(de)次數，以克(ke)服這種偶(ou)然誤差。如果基(ji)(ji)體(ti)上(shang)基(ji)(ji)體(ti)金(jin)屬粗(cu)糙，還必須在未涂(tu)的(de)(de)(de)粗(cu)糙度相類似的(de)(de)(de)基(ji)(ji)體(ti)金(jin)屬試(shi)件(jian)上(shang)取幾個位(wei)置校對(dui)儀器(qi)的(de)(de)(de)零點，或用對(dui)基(ji)(ji)體(ti)金(jin)屬沒有(you)腐蝕的(de)(de)(de)溶液溶解(jie)去除涂(tu)層后，再校對(dui)儀器(qi)的(de)(de)(de)零點;

　　6. 基體(ti)金(jin)屬的(de)電導(dao)率對測量有影響，而(er)基體(ti)金(jin)屬的(de)電導(dao)率與其(qi)材料(liao)成(cheng)份(fen)及熱處理(li)方法(fa)有關(guan)。使用與試件基體(ti)金(jin)屬具(ju)有相同性質(zhi)的(de)標準(zhun)片對儀器進行校準(zhun);

　　7. 每一種表面涂層測厚儀都有一(yi)個(ge)臨界厚(hou)度，大于這(zhe)個(ge)厚(hou)度，測量就不受(shou)基體(ti)金(jin)屬厚(hou)度的影響。

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