(1)涂(tu)層測(ce)厚儀(yi)(yi)之所以能夠測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)到微(wei)米(mi)級就因為(wei)它能夠采取(qu)磁(ci)通(tong)量(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)(de)微(wei)小變化(hua)(hua)，并(bing)把(ba)它轉化(hua)(hua)成(cheng)為(wei)數字信號(hao)。在使用儀(yi)(yi)器測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)過程中(zhong)如果(guo)用戶對本儀(yi)(yi)器不熟(shu)悉就可能使探(tan)頭偏離被測(ce)機體，使磁(ci)通(tong)量(liang)(liang)(liang)(liang)發(fa)生(sheng)變化(hua)(hua)造(zao)成(cheng)錯誤測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)。所以建議用戶朋(peng)友初次使用本儀(yi)(yi)器時，要(yao)先掌握好測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)方(fang)法。探(tan)頭的(de)(de)放置方(fang)式對測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)有很大影響，在測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)中(zhong)應使探(tan)頭與試樣表面保持垂直(zhi)。并(bing)且探(tan)頭的(de)(de)放置時間不宜過長(chang)，以免造(zao)成(cheng)基體本身磁(ci)場的(de)(de)干擾。

　　(2)強磁場的干擾。當儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時，測量會受到嚴重的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能會發生死機現象。

　　(3)在系統校準時沒有選擇合適的基體。基體zui小平面為7mm，zui小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。

　　(4)附著物質的影響。本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感。因此必須清除附著物質，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進行系統校準時，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。

　　(5)儀器(qi)發生故障(zhang)。此時可(ke)以和技術人員交流或(huo)者返(fan)廠維(wei)修。