1、基(ji)體金屬磁性質

磁性(xing)法測厚受基體(ti)(ti)金屬磁性(xing)變化(hua)的(de)影響(在實際(ji)應用(yong)中，低碳鋼(gang)磁性(xing)的(de)變化(hua)可(ke)以(yi)認為是輕微(wei)的(de))，為了(le)避免熱處(chu)理和冷加工因素的(de)影響，應使用(yong)與(yu)試(shi)(shi)件基體(ti)(ti)金屬具有相(xiang)同性(xing)質的(de)標準片(pian)對儀器進(jin)行校(xiao)準;亦可(ke)用(yong)待涂覆試(shi)(shi)件進(jin)行校(xiao)準。

2、基體(ti)金(jin)屬(shu)電性質

基(ji)體金屬的電(dian)導率對測量有影響，而基(ji)體金屬的電(dian)導率與其材料成分及(ji)熱處理方法有關。使用與試件基(ji)體金屬具有相同性質的標準(zhun)片(pian)對儀器(qi)進行校準(zhun)。

3、基體(ti)(ti)金屬厚(hou)度

每一(yi)(yi)種儀器都有一(yi)(yi)個基(ji)體(ti)金屬的臨界厚度(du)。大于這個厚度(du)，測量就(jiu)不受基(ji)體(ti)金屬厚度(du)的影(ying)響。本儀器的臨界厚度(du)值見(jian)附(fu)表1。

4、邊緣效應(ying)

本儀(yi)器對試(shi)件表(biao)面形(xing)狀的(de)陡變敏(min)感。因此在靠(kao)(kao)近(jin)試(shi)件邊緣或內(nei)轉角(jiao)處進(jin)行測量是(shi)不(bu)可靠(kao)(kao)的(de)。

5、曲率

試件的曲率對(dui)測量(liang)(liang)有(you)影(ying)響(xiang)。這種影(ying)響(xiang)總是隨著(zhu)曲率半徑的減(jian)少明顯(xian)地增大(da)。因此，在彎曲試件的表面(mian)上測量(liang)(liang)是不可(ke)靠的。

6、試件的變形

測頭會使軟(ruan)覆蓋層試(shi)件(jian)變(bian)形，因此在這些試(shi)件(jian)上(shang)測出可靠的數據(ju)。

7、表面粗糙度

基體(ti)金(jin)(jin)屬(shu)(shu)和(he)(he)覆蓋層的(de)(de)(de)表面粗(cu)(cu)糙程度對(dui)測(ce)(ce)量(liang)有(you)影響。粗(cu)(cu)糙程度增(zeng)大，影響增(zeng)大。粗(cu)(cu)糙表面會引起系統誤(wu)差(cha)和(he)(he)偶然(ran)誤(wu)差(cha)，每次(ci)測(ce)(ce)量(liang)時，在不同位(wei)置(zhi)上(shang)應增(zeng)加測(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)(de)次(ci)數，以克服(fu)這種偶然(ran)誤(wu)差(cha)。如果基體(ti)金(jin)(jin)屬(shu)(shu)粗(cu)(cu)糙，還必須在未(wei)涂(tu)覆的(de)(de)(de)粗(cu)(cu)糙度相類似的(de)(de)(de)基體(ti)金(jin)(jin)屬(shu)(shu)試件上(shang)取幾個位(wei)置(zhi)校對(dui)儀器(qi)的(de)(de)(de)零(ling)點;或用對(dui)基體(ti)金(jin)(jin)屬(shu)(shu)沒有(you)腐蝕(shi)的(de)(de)(de)溶液溶解除(chu)去覆蓋層后，再校對(dui)儀器(qi)的(de)(de)(de)零(ling)點。

8、磁場

周圍(wei)各種電氣設備所產生(sheng)的強磁場，會嚴重地干擾磁性法(fa)測(ce)厚工作。

9、附著物質

本儀器對那(nei)些妨礙測頭與覆蓋層表(biao)面緊密接觸的附著(zhu)物(wu)質(zhi)敏感(gan)，因此，必須清除附著(zhu)物(wu)質(zhi)，以保證儀器測頭和(he)被測試件表(biao)面直接接觸。

10、測頭(tou)壓力

測(ce)頭置(zhi)于試件上所施(shi)加的壓力大小會(hui)影(ying)響測(ce)量的讀數，因此(ci)，要保持壓力恒定。

11、測(ce)頭的取向

測頭(tou)的放置方式對測量有(you)影(ying)響。在測量中(zhong)，應(ying)當使測頭(tou)與試(shi)樣表面保持垂(chui)直(zhi)。