超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的,當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度。
為了得到準確的測量數據,在測量之前必須要對超聲波測厚儀進行校正。具體來講,需要先對測厚儀的下線和線性進行校正。一般來講,測厚儀的測量下限需要用厚度為下限的試塊進行校準。如果已經知道被測材料的聲速,則可以事先將聲速值調節好,之后在測厚儀附帶的試塊上,點擊校準按鈕,完成測厚儀的校正工作。
通常情況下測厚儀附帶的試塊厚度較小,如果需要的厚度和試塊的厚度有較大差距的時候,則需要用臺階試塊分別在厚度接近待測厚度的*值的范圍之間進行準確校正,這樣在實際應用的時候才能夠得出較為準確的測量數據需要注意的是,由于不同品牌的超聲波測厚儀,其附帶的試塊厚度不相同,具體的應用范圍和操作流程也存在著一定的差異,因此在使用的時候需要注意,避免出現記錯試塊厚度的情況,這樣就會影響到測量的準確度。
![TM-1240應用領域.jpg](//img69.chem17.com/9/20220907/6379887972.jpg)