在維修探頭時(shi)常(chang)(chang)常(chang)(chang)發現磁芯的磨損較嚴重，有的可以說是損壞重大。例如N1頭的寶石芯常(chang)(chang)常(chang)(chang)破損掉(diao)碴(cha)，F1頭磁芯的弧芯被壓平或變形等。

首先作為探頭在運用(yong)中被(bei)磨損屬(shu)正常情況。但假如用(yong)戶依(yi)據其特點加(jia)以注意，就會延伸(shen)其運用(yong)壽命。
其中(zhong)普遍存(cun)在(zai)(zai)的問題是(shi)，在(zai)(zai)測(ce)(ce)量時(shi)，因(yin)為通常都是(shi)向(xiang)下(xia)測(ce)(ce)試(shi)，運(yun)用者往往較用力(li)向(xiang)下(xia)墩，時(shi)間一(yi)長就很容易形成測(ce)(ce)頭(tou)(tou)芯的失效。正確的運(yun)用辦(ban)法(fa)是(shi)將(jiang)探(tan)頭(tou)(tou)在(zai)(zai)被測(ce)(ce)工(gong)件一(yi)厘(li)米處(chu)時(shi)微微壓向(xiang)被測(ce)(ce)外表(biao)面，由(you)于探(tan)頭(tou)(tou)在(zai)(zai)設計(ji)時(shi)曾經內置一(yi)感應壓力(li)彈(dan)簧，只需(xu)微微壓下(xia)即可(ke)。另一(yi)點，探(tan)頭(tou)(tou)在(zai)(zai)重復(fu)移動中(zhong)，易與其它物體產生磕(ke)、碰、撞，也容易形成測(ce)(ce)頭(tou)(tou)損壞，所以假如工(gong)作條件允許，可(ke)以將(jiang)測(ce)(ce)頭(tou)(tou)固定而(er)(er)將(jiang)被測(ce)(ce)工(gong)件去接觸探(tan)頭(tou)(tou)，從(cong)而(er)(er)增(zeng)加探(tan)頭(tou)(tou)的磕(ke)碰。

還有一(yi)種狀況，在(zai)測量時，每當測下一(yi)個點一(yi)定要將測頭提起不可平(ping)拉，以增加磁芯磨損。
最后一(yi)點，測(ce)頭(tou)一(yi)定要遠離(li)強磁場，以免(mian)改變探頭(tou)的(de)固有(you)頻率形(xing)成沒辦法(fa)使(shi)用(yong)。正確的(de)操作(zuo)運(yun)用(yong)方法(fa)會(hui)延伸(shen)鍍層(ceng)測(ce)厚儀(yi)的(de)運(yun)用(yong)壽命。