在(zai)利用進(jin)行測(ce)量(liang)的時候還應當注意探頭和被測(ce)料(liao)面保持(chi)垂(chui)直，以(yi)免產生大的誤(wu)差。若是測(ce)量(liang)的同一個點，可(ke)將探頭每次都離(li)開10公(gong)分以(yi)上，間隔幾秒以(yi)后(hou)再進(jin)行測(ce)量(liang)，以(yi)免被測(ce)材料(liao)探頭磁化而影響(xiang)測(ce)量(liang)結果。

涂層(ceng)測(ce)(ce)(ce)厚儀作(zuo)為(wei)調(diao)零用(yong)的(de)表面(mian)需要盡量(liang)保(bao)持光滑，如果(guo)表面(mian)不光滑，應(ying)當視情況取平均值(zhi)，因為(wei)表面(mian)粗糙度對(dui)測(ce)(ce)(ce)量(liang)的(de)數值(zhi)影響較大(da)。結(jie)構(gou)不同應(ying)分別進行(xing)調(diao)零測(ce)(ce)(ce)量(liang)，平面(mian)調(diao)零側臉(lian)平面(mian)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)凹面(mian)調(diao)零后(hou)測(ce)(ce)(ce)量(liang)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)凸面(mian)調(diao)零后(hou)進行(xing)測(ce)(ce)(ce)量(liang)，避免(mian)由(you)于結(jie)構(gou)不同而在測(ce)(ce)(ce)量(liang)上產生誤差。

由于儀器的讀(du)數并不*相同，因此(ci)必(bi)須(xu)在(zai)每個測(ce)量區(qu)域中獲(huo)取多個讀(du)數。 覆蓋層厚度的局部差異還要(yao)求在(zai)任何(he)給定區(qu)域進(jin)行多次測(ce)量，尤其是在(zai)表面粗糙的情況下。

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