，分為手(shou)持式(shi)(shi)和(he)臺式(shi)(shi)二種，手(shou)持式(shi)(shi)又有磁(ci)感應鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)，電(dian)渦(wo)流鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)，熒光X射線儀(yi)鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)。手(shou)持式(shi)(shi)的(de)磁(ci)感應原理時，利(li)用從測(ce)頭經過非鐵(tie)磁(ci)覆層(ceng)而流入鐵(tie)磁(ci)基體(ti)(ti)的(de)磁(ci)通(tong)的(de)大小，來測(ce)定覆層(ceng)厚(hou)度(du)。也可以測(ce)定與之對應的(de)磁(ci)阻的(de)大小，來表示其覆層(ceng)厚(hou)度(du)。

臺式的熒光(guang)，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。

基體金屬特性(xing)

對于(yu)渦流方法(fa)，標準片基(ji)(ji)體金屬(shu)的(de)電(dian)性質，應當(dang)與試(shi)件基(ji)(ji)體金屬(shu)的(de)電(dian)性質相似。

基體金屬厚(hou)度

檢查基(ji)體金屬厚度(du)(du)是否超(chao)過(guo)臨(lin)界厚度(du)(du)，無損檢測資源網 如果沒有，可采用3.3中的某種(zhong)方法進行(xing)校(xiao)準。

邊緣效應(ying)

不應在緊靠(kao)試件(jian)的突(tu)變處(chu)(chu)，如邊緣、洞和內轉(zhuan)角等處(chu)(chu)進(jin)行測量。

曲率

不(bu)應在試件的彎曲表面(mian)上測量。

讀數次數

通常(chang)由于的(de)每次讀(du)數(shu)并不*相同，因此必須在(zai)(zai)每一測量(liang)面積內(nei)取幾個讀(du)數(shu)。覆蓋層厚度的(de)局部(bu)差異，也要(yao)求在(zai)(zai)任(ren)一給定的(de)面積內(nei)進行多次測量(liang)，表面粗造時更(geng)應如此。

表面清潔度

測量前，應**表面上的(de)任(ren)何(he)附著物(wu)質，如塵土、油脂及腐蝕產物(wu)等，但不要除(chu)去任(ren)何(he)覆蓋層(ceng)物(wu)質。