作(zuo)業原理及常見問題匯總

一(yi)、涂層測厚(hou)儀簡(jian)介

啥(sha)是(shi)測(ce)(ce)厚儀?測(ce)(ce)厚儀其(qi)實是(shi)一種(zhong)用(yong)于查看物體厚度的儀器儀表。在工業生產測(ce)(ce)厚中(zhong)廣泛運用(yong)。這(zhe)類涂層測(ce)(ce)厚儀，根(gen)據其(qi)測(ce)(ce)量辦法的不一樣，大致(zhi)可以(yi)(yi)劃(hua)分為(wei)以(yi)(yi)下幾個種(zhong)類：運用(yong)α 射線、β 射線、y 射線穿透特性的放射性厚度計(ji);選用(yong)超聲(sheng)波頻率(lv)改動的超聲(sheng)波厚度計(ji)以(yi)(yi)及選用(yong)渦流原理的電渦流厚度計(ji);還有電容(rong)式(shi)厚度計(ji)等。

此外，運用(yong)微波和(he)激光技術制成厚(hou)(hou)度(du)計(ji)，現(xian)在還處(chu)在研發(fa)(fa)、試驗期間。涂(tu)層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀可(ke)測(ce)量(liang)磁(ci)性金屬基體(如(ru)鋼(gang)、鐵、合金和(he)硬磁(ci)性鋼(gang)等(deng))上非(fei)磁(ci)性涂(tu)層(ceng)的厚(hou)(hou)度(du)(如(ru)鋁(lv)、鉻(ge)、銅、搪瓷、橡膠(jiao)、油漆等(deng))及非(fei)磁(ci)性金屬基體(如(ru)銅、鋁(lv)、鋅、錫等(deng))上非(fei)導(dao)電覆層(ceng)的厚(hou)(hou)度(du)(如(ru)：搪瓷、橡膠(jiao)、油漆、塑料等(deng))。既(ji)可(ke)用(yong)于實驗室中的精細測(ce)量(liang)，也可(ke)用(yong)于工程現(xian)場(chang)廣泛地運用(yong)在金屬制造業、化(hua)工業、航空航天、科研開發(fa)(fa)等(deng)范疇，是企業確保產品質(zhi)量(liang)、商查看(kan)控、的查看(kan)儀器。

二、作業原理

膜(mo)厚(hou)儀(yi)采用了磁性(xing)(xing)(xing)和(he)渦流兩(liang)種測(ce)厚(hou)方法(fa)，可無(wu)損地測(ce)量磁性(xing)(xing)(xing)金(jin)屬(shu)基體(ti)( 如(ru)(ru)(ru)鋼、鐵、合金(jin)和(he)硬(ying)磁性(xing)(xing)(xing)鋼等(deng)(deng) )上非磁性(xing)(xing)(xing)覆(fu)蓋層的厚(hou)度(如(ru)(ru)(ru)鋁(lv)、鉻、銅、琺瑯、橡膠(jiao)、 油漆(qi)等(deng)(deng))及非磁性(xing)(xing)(xing)金(jin)屬(shu)基體(ti)(如(ru)(ru)(ru)銅、 鋁(lv)、 鋅、 錫等(deng)(deng))上非導電覆(fu)蓋層的厚(hou)度(如(ru)(ru)(ru):琺瑯、橡膠(jiao)、油漆(qi)、塑料等(deng)(deng))。

a) 磁性法(fa)(F 型測量頭)

當(dang)測(ce)量頭與覆蓋(gai)(gai)層(ceng)接觸時，測(ce)量頭和磁性(xing)金屬基體構(gou)成一閉合磁路，由于非磁性(xing)覆蓋(gai)(gai)層(ceng)的存(cun)在，使磁路磁阻變化(hua)，通過(guo)測(ce)量其變化(hua)可導出覆蓋(gai)(gai)層(ceng)的厚度。

b) 渦流法(fa)(N 型測(ce)量頭)

利(li)用高頻(pin)交變(bian)電(dian)流在線(xian)(xian)圈中(zhong)(zhong)產生(sheng)一個電(dian)磁場，當測(ce)量(liang)(liang)頭(tou)與覆(fu)蓋(gai)層(ceng)接觸時，金屬基(ji)體上(shang)產生(sheng)電(dian)渦流，并對(dui)測(ce)量(liang)(liang)頭(tou)中(zhong)(zhong)的(de)線(xian)(xian)圈產生(sheng)反饋作用，通過測(ce)量(liang)(liang)反饋作用的(de)大小可導出覆(fu)蓋(gai)層(ceng)的(de)厚度(du)。

三(san)、常(chang)見(jian)毛(mao)病及(ji)掃除辦法

涂層測(ce)厚儀的(de)(de)毛病(bing)(bing)主要有示值(zhi)顯現(xian)不穩定、測(ce)量差錯較大、屏(ping)幕不顯現(xian)數據。致使這(zhe)些(xie)毛病(bing)(bing)的(de)(de)要素既有來(lai)自儀器本身，也有被測(ce)工件的(de)(de)要素，還有即是來(lai)自人為的(de)(de)影響，下面(mian)咱們(men)介紹(shao)一(yi)下掃除這(zhe)些(xie)毛病(bing)(bing)的(de)(de)辦法(fa)。

1.示值顯現不穩定

致使示(shi)值(zhi)顯現(xian)不(bu)穩定的(de)(de)(de)(de)(de)要(yao)(yao)(yao)(yao)素(su)主要(yao)(yao)(yao)(yao)是(shi)來自工件(jian)本(ben)身的(de)(de)(de)(de)(de)資料和構造的(de)(de)(de)(de)(de)特別性(xing)，比方工件(jian)本(ben)身是(shi)不(bu)是(shi)為(wei)導磁(ci)性(xing)資料，假如(ru)是(shi)導磁(ci)性(xing)資料咱(zan)們就要(yao)(yao)(yao)(yao)挑(tiao)(tiao)選(xuan)(xuan)磁(ci)性(xing)涂(tu)層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀，假如(ru)工件(jian)為(wei)導電體(ti)(ti)，咱(zan)們就得挑(tiao)(tiao)選(xuan)(xuan)渦(wo)流涂(tu)層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀。再者，被測(ce)件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)外(wai)(wai)表(biao)粗糙度和附著(zhu)物也是(shi)致使儀器示(shi)值(zhi)顯現(xian)不(bu)穩定的(de)(de)(de)(de)(de)重要(yao)(yao)(yao)(yao)要(yao)(yao)(yao)(yao)素(su)，測(ce)厚(hou)(hou)儀的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)頭對(dui)那些阻(zu)礙與(yu)覆蓋層(ceng)(ceng)外(wai)(wai)表(biao)緊密觸(chu)摸的(de)(de)(de)(de)(de)附著(zhu)物質極其靈敏(min)。有(you)(you)必要(yao)(yao)(yao)(yao)確保探(tan)頭與(yu)覆蓋層(ceng)(ceng)外(wai)(wai)表(biao)直(zhi)觸(chu)摸摸。因而，掃(sao)除此種毛病的(de)(de)(de)(de)(de)關鍵即是(shi)：測(ce)量(liang)前鏟除被測(ce)件(jian)觸(chu)摸面的(de)(de)(de)(de)(de)塵埃、細屑、油脂及腐蝕(shi)產(chan)物等(deng)附著(zhu)物，但不(bu)要(yao)(yao)(yao)(yao)除去任何覆蓋層(ceng)(ceng)物質。再有(you)(you)即是(shi)在進(jin)行體(ti)(ti)系(xi)調(diao)零時(shi)(shi)，所運用的(de)(de)(de)(de)(de)基(ji)體(ti)(ti)外(wai)(wai)表(biao)也有(you)(you)必要(yao)(yao)(yao)(yao)是(shi)清洗(xi)、潤(run)滑(hua)的(de)(de)(de)(de)(de)。如(ru)感受測(ce)量(liang)成果差錯(cuo)比較(jiao)大(da)時(shi)(shi)，請(qing)先用儀器裝備的(de)(de)(de)(de)(de)塑料校準片做(zuo)一輪測(ce)驗，如(ru)違(wei)背(bei)答(da)應差錯(cuo)較(jiao)遠則有(you)(you)也許是(shi)儀器本(ben)身出了問題，需返廠家檢修。在體(ti)(ti)系(xi)校按時(shi)(shi)沒有(you)(you)挑(tiao)(tiao)選(xuan)(xuan)適宜的(de)(de)(de)(de)(de)基(ji)體(ti)(ti)。基(ji)體(ti)(ti)較(jiao)小平面為(wei)7mm，較(jiao)小厚(hou)(hou)度為(wei) 0.2mm，低于此臨界條件(jian)測(ce)量(liang)是(shi)不(bu)可(ke)靠的(de)(de)(de)(de)(de)。

2.測量成(cheng)果差(cha)錯大(da)

探(tan)頭的(de)放置方法對測(ce)(ce)(ce)量(liang)有(you)很大影響，在測(ce)(ce)(ce)量(liang)中應使探(tan)頭與被測(ce)(ce)(ce)件外表堅(jian)持筆(bi)直。而且探(tan)頭的(de)放置時刻不(bu)宜(yi)過(guo)(guo)長，避免形成(cheng)基(ji)體本身(shen)磁(ci)(ci)場(chang)的(de)攪(jiao)擾。測(ce)(ce)(ce)量(liang)時不(bu)要拖動探(tan)頭，由于這么不(bu)僅(jin)對探(tan)頭會形成(cheng)磨損，也不(bu)會得(de)到(dao)的(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)成(cheng)果。別的(de)，基(ji)體金(jin)(jin)屬(shu)被磁(ci)(ci)化(hua)、基(ji)體金(jin)(jin)屬(shu)厚(hou)度過(guo)(guo)小、工件曲率過(guo)(guo)小、測(ce)(ce)(ce)量(liang)基(ji)座外表有(you)銹蝕(shi)、測(ce)(ce)(ce)量(liang)現場(chang)周圍(wei)有(you)電磁(ci)(ci)場(chang)攪(jiao)擾等要素都有(you)也許致使測(ce)(ce)(ce)量(liang)成(cheng)果的(de)反常，假如離電磁(ci)(ci)場(chang)十分近(jin)時還有(you)也許會發作死機景(jing)象。

3.屏幕不顯現(xian)數(shu)據

較簡(jian)略要素(su)(su)即(ji)是(shi)(shi)查看電(dian)(dian)池是(shi)(shi)不(bu)是(shi)(shi)電(dian)(dian)量(liang)足夠，斷定電(dian)(dian)池電(dian)(dian)量(liang)足夠后(hou)如發現(xian)測(ce)量(liang)仍是(shi)(shi)不(bu)顯(xian)現(xian)數值，可以思考是(shi)(shi)不(bu)是(shi)(shi)有(you)測(ce)頭及連線有(you)松(song)動(dong)、斷開(kai)或觸摸不(bu)良景(jing)象、電(dian)(dian)池漏液后(hou)腐蝕儀(yi)器內電(dian)(dian)子零(ling)部件等要素(su)(su)影響。小(xiao)編(bian)在實際(ji)作(zuo)業(ye)中就碰到過因(yin)測(ce)頭運(yun)用不(bu)當被化學(xue)物品腐蝕，致使儀(yi)器不(bu)顯(xian)現(xian)數據的景(jing)象。

4.人為要素

涂(tu)層(ceng)測厚儀(yi)之所以可以測量到微米級就由于它可以采納磁通量的細小改動，并把它轉化變成數字信號。運用者在測量過程中假如對儀器不熟悉就也許使探頭違背被測體，使磁通量發作改動形成錯誤測量。運用者初度運用儀器時，要先認真研讀說明書，把握好測量辦法。

5.儀器本身發作毛病

長(chang)時(shi)間處于(yu)作(zuo)業狀況(kuang)的(de)測(ce)厚(hou)儀，極有也許發作(zuo)轟動、下跌、等(deng)意外，或(huo)所在(zai)的(de)作(zuo)業環境有磁場攪(jiao)(jiao)擾(rao)，致(zhi)使儀器(qi)內(nei)部(bu)電子零件(jian)受攪(jiao)(jiao)擾(rao)至損，又是由于(yu)經(jing)多人次、多地(di)址運(yun)用，致(zhi)使儀器(qi)測(ce)量數(shu)據不可靠、屏幕數(shu)據顯(xian)現呈亂碼、乃至無法開機(ji)等(deng)，所以主張(zhang)盡量確保專人運(yun)用和保管儀器(qi)，發作(zuo)毛病及時(shi)返(fan)廠修理，不得(de)私(si)行拆機(ji)查看。

是(shi)一(yi)個集科研、開發、生(sheng)產、銷售(shou)、外貿及服務為一(yi)體的經營機構(gou)。主要產品(pin)有(you)：振(zhen)動儀(yi)，數字邵氏(shi)橡膠(jiao)硬度(du)計，涂層測厚儀(yi)，超聲測厚儀(yi)，轉速表(biao)，聲級器，水(shui)份(fen)儀(yi)，里氏(shi)硬度(du)計，粗糙(cao)度(du)度(du)儀(yi)等(deng)等(deng)。