臺式的熒光X射線膜厚儀,是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。
保障測量顯示值準確性必要懂得以下小技巧
基體金屬特性
不應在試件的彎曲表面上測量。
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