分為手持式膜厚儀和臺式膜厚儀兩種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

臺(tai)式的熒光(guang)X射(she)(she)線膜厚(hou)(hou)儀，是通(tong)過一次X射(she)(she)線穿(chuan)透金屬元素樣品時·產(chan)生低能量的光(guang)子，俗稱為二(er)次熒光(guang)，,在(zai)通(tong)過計算(suan)二(er)次熒光(guang)的能量來(lai)計算(suan)厚(hou)(hou)度值。

保障測量顯示值準確性必要懂得以下小技巧

基體金屬(shu)特性

表(biao)面清潔度

測量(liang)前，應表面(mian)上的任(ren)何附著物質(zhi)，如塵土、油脂及(ji)腐蝕(shi)產物等，但不(bu)要(yao)除(chu)去任(ren)何覆蓋層物質(zhi)。

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