亚洲国产成人无码AV在线影院_亚洲日韩精品欧美一区二区一_国模裸体无码XXXX视频_国产午夜精品免费一区二区三区

您好!歡迎訪問廣州蘭泰儀器有限公司網站!
全國服務咨詢熱線:

當前位置:首頁 > 技術文章 > 探討膜厚儀一般情況下在如哪些條件下測量更準確

探討膜厚儀一般情況下在如哪些條件下測量更準確

更新時間:2021-04-13      點擊次數:1113

分為手持式膜厚儀和臺式膜厚儀兩種,手持式又有磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。

臺式的熒光X射線膜厚儀,是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。

保障測量顯示值準確性必要懂得以下小技巧

基體金屬特性

對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質,應當與試件基體金屬的電性質相似。
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,無損檢測資源網 如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。
不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
不應在試件的彎曲表面上測量。
通常由于的每次讀數并不*相同,因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進行多次測量,表面粗造時更應如此。

表面清潔度

測量前,應表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產物等,但不要除去任何覆蓋層物質。

以是介紹檢測試樣準確性的方法,別錯過哦!

廣州蘭泰儀器有限公司
地址:廣州市荔灣區海北裕海路265號B棟3樓
郵箱:
傳真:86-
關注我們
歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息:
歡迎您關注我們的微信公眾號
了解更多信息