影(ying)響(xiang)測(ce)量數據(ju)不準的原(yuan)因

每一種(zhong)器都有一個(ge)(ge)臨界厚(hou)度，大(da)于這個(ge)(ge)厚(hou)度，測(ce)量(liang)就不受基體金屬厚(hou)度的影響(xiang);對試件表面(mian)形狀(zhuang)的陡變敏感，因此(ci)在(zai)靠近試件邊緣或內(nei)轉角處進行測(ce)量(liang)是不可靠的;試件的曲(qu)率(lv)對測(ce)量(liang)有影響(xiang)，隨著(zhu)曲(qu)率(lv)半徑的減少明顯(xian)地增大(da)，因此(ci)，在(zai)彎曲(qu)試件的表面(mian)上測(ce)量(liang)也(ye)是不可靠的;

基(ji)(ji)體(ti)金(jin)屬和(he)涂層的(de)(de)(de)表面粗(cu)糙度對(dui)測量(liang)有影響。粗(cu)糙度增(zeng)大，影響增(zeng)大，粗(cu)糙表面會引起系(xi)統誤差和(he)偶(ou)(ou)然誤差，每次測量(liang)時，在不(bu)同的(de)(de)(de)位置上(shang)應增(zeng)加(jia)測量(liang)的(de)(de)(de)次數(shu)，以克服這種偶(ou)(ou)然誤差。如果基(ji)(ji)體(ti)上(shang)基(ji)(ji)體(ti)金(jin)屬粗(cu)糙，還(huan)必須在未涂的(de)(de)(de)粗(cu)糙度相類(lei)似的(de)(de)(de)基(ji)(ji)體(ti)金(jin)屬試件上(shang)取幾(ji)個(ge)位置校(xiao)對(dui)儀(yi)器的(de)(de)(de)零點，或(huo)用對(dui)基(ji)(ji)體(ti)金(jin)屬沒有腐蝕的(de)(de)(de)溶(rong)液溶(rong)解去除涂層后，再校(xiao)對(dui)儀(yi)器的(de)(de)(de)零點;

周圍各種電(dian)氣設備所產生的強磁場，會嚴(yan)重干擾磁性測厚(hou)工作;

探頭(tou)會(hui)使軟涂層試(shi)件(jian)變(bian)形，因此(ci)在這些試(shi)件(jian)上測不出可靠的數據;

妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著物質，必須清除，在測量中，要保持壓力恒定，探頭與試件表面保持垂直，才能達到jing確的測量。

磁性(xing)(xing)法測量厚度(du)受基體(ti)金屬(shu)性(xing)(xing)變(bian)化的影響(在(zai)實(shi)際應用中，低碳鋼磁性(xing)(xing)的變(bian)化可以認(ren)為是輕(qing)微的)，為避免熱(re)處理和冷加工因素(su)的影響，應使用與試件基體(ti)金屬(shu)具有(you)相同性(xing)(xing)質的標準(zhun)片(pian)對儀器進行(xing)校準(zhun);

基體金(jin)屬的(de)電導率(lv)對測(ce)量有影響(xiang)，而基體金(jin)屬的(de)電導率(lv)與(yu)(yu)其(qi)材料成份(fen)及熱處理方法有關,應使用與(yu)(yu)試件基體金(jin)屬具有相同性質的(de)標(biao)準片對儀(yi)器進(jin)行校準。