1、激光測(ce)厚儀是利用激光(guang)的反射原理，根據光(guang)切法測量和觀察機械制造中(zhong)零(ling)件加工表面的微(wei)觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直(zhi)接輸(shu)出數字(zi)信號(hao)與工業計(ji)算機相連接，并迅速處理數據并輸(shu)出偏差值到各種工業設(she)備。

2、X射(she)線測厚儀(yi)利(li)用X射線穿透被測材料時(shi)，X射線的(de)(de)強(qiang)度的(de)(de)變化與材料的(de)(de) 厚(hou)度相關的(de)(de)特(te)性，滄州歐譜從而測定材料的(de)(de)厚(hou)度，是一種非接觸式的(de)(de)動態計(ji)(ji)(ji)量儀(yi)器。它(ta)以(yi)PLC和工(gong)業(ye)計(ji)(ji)(ji)算(suan)機為核心，采集計(ji)(ji)(ji)算(suan)數據并輸出(chu)目標(biao)偏差(cha)值(zhi)給(gei)軋機厚(hou)度控 制系(xi)統(tong)，達(da)到要(yao)(yao)求(qiu)的(de)(de)軋制厚(hou)度。主(zhu)要(yao)(yao)應用行(xing)業(ye)：有色(se)金屬的(de)(de)板帶(dai)箔(bo)加(jia)工(gong)、冶金行(xing)業(ye)的(de)(de)板帶(dai)加(jia)工(gong)。

 3、紙張測厚儀：適用于4mm以(yi)下(xia)的各(ge)種薄膜、紙張、紙板以(yi)及其他片狀材(cai)料厚(hou)度(du)的測量。

4、薄膜(mo)測(ce)厚儀：用(yong)于測(ce)定薄膜(mo)、薄片(pian)等材料的厚度，測(ce)量(liang)范圍寬、測(ce)量(liang)精度高，具有數據(ju)輸(shu)出、任意(yi)位(wei)置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。

 5、涂層(ceng)測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬(shu)基體上涂層(ceng)的厚度.

6、超聲(sheng)波(bo)測(ce)厚儀(yi)：超聲(sheng)波(bo)測(ce)厚儀(yi)是根據(ju)超聲(sheng)波(bo)脈沖反射(she)原理來進行厚度(du)測(ce)量 的，滄州(zhou)歐譜當探頭發射(she)的超聲(sheng)波(bo)脈沖通過被(bei)測(ce)物體到(dao)達材(cai)料分界(jie)面時，脈沖被(bei)反射(she)回探頭，通過測(ce)量超聲(sheng)波(bo)在(zai)材(cai)料中傳播的時間來確定(ding)被(bei)測(ce)材(cai)料的厚度(du)。凡能(neng) 使(shi)超聲(sheng)波(bo)以(yi)一恒定(ding)速度(du)在(zai)其內部(bu)傳播的各種材(cai)料均(jun)可采用此原理測(ce)量。