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1、薄涂層的測量準que度和厚度沒有任何關系，是一個常數，厚涂層的測量準que度是一個近似恒定的分數和厚度的乘積。
2、基體磁性的變化會影響測量的數據，所以涂鍍層測厚儀校準時要采用材質和試樣基體一樣的校準；
采用待鍍產品做基體實行儀器校準，以防止不一樣的個體或局部熱處理和冷加工影響測量數據。
3、涂鍍層測厚儀在靠近試樣邊緣或內轉角處的測量數據往往是不牢靠的，這種效應或許從不持續處向前延續約20mm。
4、涂鍍層測厚儀測量曲面時，數據隨曲率半徑的減小而開始顯著。
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