1、薄涂層的(de)(de)(de)測(ce)量準que度和厚度沒有任(ren)何關系，是(shi)一(yi)個常(chang)數，厚涂層的(de)(de)(de)測(ce)量準que度是(shi)一(yi)個近似(si)恒定的(de)(de)(de)分(fen)數和厚度的(de)(de)(de)乘積。

2、基(ji)(ji)體磁(ci)性的(de)變化會影響測(ce)量(liang)的(de)數據，所以涂鍍層測(ce)厚儀校(xiao)準(zhun)時要采(cai)用材質和(he)試樣基(ji)(ji)體一樣的(de)校(xiao)準(zhun)；

采用待鍍產品做基體實行儀器校準，以防止不一樣的個體或局部熱處理和冷加工影響測量數據。

3、涂鍍層測厚儀在靠近試樣邊緣或內轉角處的測量數據往往是不牢靠的，這種效應或許從不持續處向前延續約20mm。
4、涂(tu)鍍層測(ce)厚儀(yi)測(ce)量曲面時，數據(ju)隨曲率半(ban)徑的減小而(er)開始顯(xian)著。