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微量水分測定儀測量材料露點溫度的方法有哪些

更新時間:2020-05-08      點擊次數:1869

微量水分測定儀也叫露點儀是為了要獲得高(gao)(gao)(gao)(gao)品質(zhi)的(de)產品或設備(bei)正(zheng)常地運轉(zhuan),微(wei)量(liang)水(shui)分測(ce)定儀能直測(ce)出露點溫(wen)度(du)(du)(du)的(de)儀器(qi)。露點可(ke)以簡單地了解為使(shi)(shi)氣(qi)體中水(shui)蒸(zheng)汽(qi)含量(liang)到達飽(bao)和形態的(de)溫(wen)度(du)(du)(du),是表示氣(qi)體濕度(du)(du)(du)的(de)方(fang)式(shi)之一。使(shi)(shi)一個鏡(jing)(jing)面(mian)處在樣(yang)品濕空(kong)氣(qi)中降溫(wen),直到鏡(jing)(jing)面(mian)上隱現露滴(或冰(bing)晶(jing))的(de)瞬間,測(ce)出鏡(jing)(jing)面(mian)平均溫(wen)度(du)(du)(du),即為露(霜)點溫(wen)度(du)(du)(du)。它測(ce)濕精度(du)(du)(du)高(gao)(gao)(gao)(gao),但需光潔度(du)(du)(du)很高(gao)(gao)(gao)(gao)的(de)鏡(jing)(jing)面(mian),精度(du)(du)(du)很高(gao)(gao)(gao)(gao)的(de)溫(wen)控(kong)系統,以及靈(ling)敏度(du)(du)(du)很高(gao)(gao)(gao)(gao)的(de)露滴(冰(bing)晶(jing))的(de)光學(xue)探測(ce)系統。露點儀運用時必需使(shi)(shi)吸(xi)入(ru)樣(yang)本空(kong)氣(qi)的(de)管(guan)道維持清潔,否則管(guan)道內(nei)的(de)雜質(zhi)將吸(xi)收或放出水(shui)分形成(cheng)測(ce)量(liang)誤(wu)差。

微量水分測(ce)定儀冷鏡法電(dian)解(jie)法就是將干(gan)燥劑吸取的(de)水(shui)分(fen)經電(dian)解(jie)池電(dian)解(jie)成(cheng)氫(qing)氣和氧氣排出,電(dian)解(jie)電(dian)流的(de)大小與水(shui)分(fen)含量(liang)成(cheng)正比,經過檢測該電(dian)流即可測得(de)樣氣的(de)濕(shi)度。該辦法補救了分(fen)量(liang)法的(de)缺(que)點,測量(liang)量(liang)程可達(da)-80℃以(yi)下,且(qie)精度較好,價錢便宜;缺(que)點是電(dian)解(jie)池氣路(lu)需要在運(yun)用(yong)前干(gan)燥很長時間,且(qie)對氣體的(de)侵蝕性及清潔性要求較高。

微量(liang)水(shui)分測定儀(yi)振動(dong)頻率(lv)(lv)法(fa)就(jiu)是將(jiang)重量法(fa)中(zhong)的干(gan)燥劑換用(yong)一(yi)種吸(xi)(xi)濕性的石英晶體,依據該晶體吸(xi)(xi)取水分品質不同(tong)(tong)(tong)時振動(dong)頻率(lv)(lv)不同(tong)(tong)(tong)的特(te)點(dian)(dian),讓(rang)樣氣(qi)和標準干(gan)燥氣(qi)流經(jing)該晶體,因此發生不同(tong)(tong)(tong)的振動(dong)頻率(lv)(lv)差△f1和△f2,計算兩頻率(lv)(lv)之差即可獲得樣氣(qi)的濕度。該露點(dian)(dian)儀振動(dong)頻率(lv)(lv)法(fa)具(ju)備電解法(fa)一(yi)樣的優點(dian)(dian),且運用(yong)前勿須干(gan)燥。

微量水分測定儀冷(leng)鏡(jing)(jing)(jing)(jing)(jing)法(fa)(fa)也(ye)是一種經(jing)典(dian)的測量辦(ban)法(fa)(fa)。讓樣氣(qi)流經(jing)露點(dian)(dian)(dian)冷(leng)鏡(jing)(jing)(jing)(jing)(jing)室的冷(leng)凝鏡(jing)(jing)(jing)(jing)(jing),經(jing)過等壓抑冷(leng),使得樣氣(qi)到達(da)飽和結露形態(冷(leng)凝鏡(jing)(jing)(jing)(jing)(jing)上有液滴析出),測量冷(leng)凝鏡(jing)(jing)(jing)(jing)(jing)此時(shi)的溫度即(ji)是樣氣(qi)的露點(dian)(dian)(dian)。露點(dian)(dian)(dian)儀冷(leng)鏡(jing)(jing)(jing)(jing)(jing)法(fa)(fa)的主優點(dian)(dian)(dian)是精(jing)度高,尤其在采用半導體制冷(leng)和光(guang)電檢(jian)測技術后(hou),不確(que)定度甚至(zhi)可(ke)達(da)0.1℃;缺點(dian)(dian)(dian)是呼應速度較(jiao)慢,尤其在露點(dian)(dian)(dian)-60℃以下,平(ping)均時(shi)間甚至(zhi)達(da)幾個小時(shi),而且此辦(ban)法(fa)(fa)對樣氣(qi)的清潔性和侵蝕(shi)性要求也(ye)較(jiao)高,否(fou)則會影(ying)響光(guang)電檢(jian)測效果或發生‘偽結露’形成測量誤(wu)差(cha)。

微量水分測定儀為了要獲得高(gao)品(pin)質的(de)產品(pin)或設施正常地運(yun)轉,許(xu)多(duo)行業(ye)諸如(ru)石化、電(dian)力、電(dian)子、航空航天(tian)、冶金(jin)、紡織等對濕(shi)(shi)度(du)(du)測量的(de)要求越來越高(gao),因此(ci),濕(shi)(shi)度(du)(du)測量已(yi)逐步成為一個(ge)新興的(de)技術范(fan)圍。依據無關規程(cheng),濕(shi)(shi)度(du)(du)被(bei)定義為氣(qi)體中的(de)水蒸氣(qi)含(han)量,經(jing)用單位有:克/升(sheng),PPM,mmHg,露點及(ji)相dui濕(shi)(shi)度(du)(du)等。習(xi)慣(guan)上以露點-20℃為界把所測氣(qi)體分為高(gao)濕(shi)(shi)度(du)(du)氣(qi)體與低濕(shi)(shi)度(du)(du)氣(qi)體。

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