光(guang)澤度儀(yi)的測(ce)(ce)量原理,光(guang)源G發射一束(shu)光(guang)通過透鏡(jing)L1達到(dao)被測(ce)(ce)面(mian)P,被測(ce)(ce)面(mian)P將(jiang)光(guang)反射到(dao)透鏡(jing)L2,透鏡(jing)L2將(jiang)光(guang)束(shu)匯聚(ju)到(dao)位(wei)于光(guang)欄B處的光(guang)電(dian)池(chi),光(guang)電(dian)池(chi)實行(xing)(xing)光(guang)電(dian)轉換后將(jiang)電(dian)信號送往解決電(dian)路實行(xing)(xing)解決,而后儀(yi)器顯示(shi)測(ce)(ce)量結果。
以下介(jie)紹(shao)光澤度儀(yi)的維護,延(yan)伸運用壽命:
1、運用中應(ying)防(fang)止強光
2、光澤(ze)度儀配帶有(you)兩塊標準板。應將(jiang)其(qi)維持清潔,不宜用手(shou)指觸(chu)(chu)摸外表(biao)面(mian),如外表(biao)面(mian)有(you)污漬則會致(zhi)使儀器誤(wu)差加大,讀數不jing確。如若不小心觸(chu)(chu)摸了(le),則可用鏡頭(tou)紙或*擦拭。
3、光(guang)澤度(du)儀穩固(gu)性*,儀器不用常(chang)常(chang)校定(ding),建議持續運(yun)用2小(xiao)時后(hou),再從新標定(ding)一(yi)次。
4、光(guang)澤度儀(yi)設計電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)運用率(lv)*,當電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)運用到0.8V以下(xia)時(shi)(電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)電(dian)(dian)能已耗盡(jin))儀(yi)器(qi)讀數開端(duan)下(xia)滑(hua),儀(yi)器(qi)顯示(shi)右上(shang)角紅(hong)色發(fa)光(guang)二極管(guan)亮,提示(shi)操(cao)作者須要(yao)替(ti)換電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi),開啟(qi)儀(yi)器(qi)左側電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)倉蓋,光(guang)澤度儀(yi)便(bian)可以從新運用,電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)耗盡(jin)應該(gai)及時(shi)替(ti)換,否則長久存放,舊電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)或許流(liu)出廢(fei)液,形成儀(yi)器(qi)損(sun)壞。
5.定(ding)標(biao)的(de)過程中,如(ru)發現旋(xuan)轉定(ding)標(biao)旋(xuan)鈕(niu)轉到盡(jin)頭(tou)(tou)(tou)還不(bu)能到達(da)黑玻(bo)璃標(biao)準班(ban)的(de)標(biao)定(ding)值,或許(xu)是(shi)儀器的(de)光學鏡(jing)頭(tou)(tou)(tou)重大污染,用鏡(jing)頭(tou)(tou)(tou)紙沾少許(xu)*擦拭(shi)鏡(jing)頭(tou)(tou)(tou),可處理問題。
首先,用已知光澤(ze)(ze)度值的(de)(de)校(xiao)準板實(shi)行標定,設此校(xiao)準板的(de)(de)光澤(ze)(ze)度值為,光源發出的(de)(de)光光強為光電池檢測到(dao)的(de)(de)光強度為 。經過校(xiao)準中可知光源光強。
光澤(ze)度(du)儀(yi)校(xiao)準的(de)(de)目的(de)(de)是消除(chu)每(mei)次開機光源強(qiang)度(du)的(de)(de)變動(dong)和(he)環(huan)境變動(dong)對丈量發生的(de)(de)影響。校(xiao)準這一(yi)步十(shi)分重要,如果(guo)校(xiao)準做的(de)(de)不(bu)好,丈量就會受很(hen)大影響。所以在(zai)校(xiao)準中,一(yi)定要保障光澤(ze)度(du)計(ji)底(di)(di)面(mian)和(he)校(xiao)準板接觸得十(shi)分嚴密,我們(men)在(zai)研發中也保障了光澤(ze)度(du)底(di)(di)面(mian)的(de)(de)加工精(jing)度(du)。