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根據測量原理不同測厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素四種類別

更新時間:2020-03-13      點擊次數:1147

測厚儀用于(yu)測(ce)(ce)定(ding)材質(zhi)(zhi)自身厚度(du)或材質(zhi)(zhi)外表面(mian)覆(fu)蓋層(ceng)厚度(du)的儀器(qi)。有(you)些構件在制作和檢修時必需測(ce)(ce)量其厚度(du),以(yi)便(bian)了解材質(zhi)(zhi)的厚薄(bo)規格,各點平(ping)均度(du)和材質(zhi)(zhi)侵蝕、磨(mo)損水平(ping);有(you)時則(ze)要測(ce)(ce)定(ding)材質(zhi)(zhi)外表面(mian)的覆(fu)蓋層(ceng)厚度(du),以(yi)保障(zhang)產(chan)(chan)質(zhi)(zhi)量和生產(chan)(chan)安全。依據(ju)測(ce)(ce)定(ding)原理的不同(tong),經(jing)用測(ce)(ce)厚儀有(you)超聲、磁(ci)性(xing)、渦流、同(tong)位素等四種。
超(chao)聲波(bo)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)超(chao)聲波(bo)在各種介(jie)(jie)質(zhi)中(zhong)(zhong)的(de)聲速(su)是(shi)不同的(de),但在同一介(jie)(jie)質(zhi)中(zhong)(zhong)聲速(su)是(shi)一常數(shu)。超(chao)聲波(bo)在介(jie)(jie)質(zhi)中(zhong)(zhong)散播(bo)遇到第二種介(jie)(jie)質(zhi)時會被反(fan)射,測(ce)量(liang)超(chao)聲波(bo)脈沖(chong)從(cong)發射至接管(guan)的(de)間(jian)隔時間(jian),即(ji)可將(jiang)這間(jian)隔時間(jian)換算(suan)成厚(hou)(hou)(hou)(hou)度。在電力工業中(zhong)(zhong)用廣(guang)的(de)就是(shi)這類測(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)。經常用于(yu)測(ce)定(ding)鍋(guo)爐鍋(guo)筒、受熱面管(guan)子、管(guan)道等的(de)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度,也用于(yu)校核工件構(gou)造尺寸等。這類測(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)多是(shi)攜帶式(shi)的(de),體積與小型(xing)半導體收音機相(xiang)近,厚(hou)(hou)(hou)(hou)度值的(de)顯示多是(shi)數(shu)字(zi)式(shi)的(de)。關于(yu)鋼(gang)材,大測(ce)定(ding)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度達2000 mm左右,精度在(zai)±0.01~±0.1 mm之間。
磁性測厚儀在測(ce)(ce)定各種(zhong)導磁(ci)(ci)材(cai)質(zhi)的(de)磁(ci)(ci)阻時,測(ce)(ce)定值會因其外(wai)表面(mian)非導磁(ci)(ci)覆(fu)蓋層厚(hou)度(du)的(de)不(bu)同而產生變動。應用(yong)這種(zhong)變動即可測(ce)(ce)知(zhi)覆(fu)蓋層厚(hou)度(du)值。常用(yong)于測(ce)(ce)定鐵磁(ci)(ci)金屬外(wai)表面(mian)上的(de)噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油(you)漆層等的(de)厚(hou)度(du)。
渦流(liu)(liu)測厚儀(yi)當載有高(gao)頻電流(liu)(liu)的探頭(tou)線(xian)圈置(zhi)于(yu)被測金屬外(wai)表面時,因(yin)為(wei)高(gao)頻磁(ci)場的作用(yong)而使金屬體(ti)內發(fa)生渦流(liu)(liu),此渦流(liu)(liu)發(fa)生的磁(ci)場又反作用(yong)于(yu)探頭(tou)線(xian)圈,使其阻抗產生變動,此變動量與(yu)探頭(tou)線(xian)圈離(li)金屬外(wai)表面的間隔(ge)(即籠(long)罩層的厚度)相關,因(yin)此依(yi)據(ju)探頭(tou)線(xian)圈阻抗的變動可直接測量金屬外(wai)表面覆(fu)蓋(gai)層的厚度。經用(yong)于(yu)測定鋁材上的氧化膜(mo)或(huo)鋁、銅外(wai)表面上其余絕緣覆(fu)蓋(gai)層的厚度。
同位素(su)測厚儀應用物質(zhi)厚度(du)不(bu)同對輻射的(de)吸取與散射不(bu)同的(de)原理,可以測定薄鋼板(ban)(ban)、薄銅(tong)板(ban)(ban)、薄鋁板(ban)(ban)、硅鋼片、合金(jin)片等金(jin)屬(shu)材(cai)質(zhi)及橡膠片,塑料膜,紙張等的(de)厚度(du)。經(jing)用的(de)同位(wei)素射線有γ射線、β射線等。

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