影響鐵基涂(tu)層(ceng)測厚儀測量要素有哪些

1，基體金屬磁性變化。為了防止熱處理、冷加工等因素的影響，應運用與鍍件金屬具備相異性質的鐵基片上 對磁性涂層測厚儀實行校對。
2，測量基體金屬厚度，基體金屬有一定臨界厚度，超出厚度測量就不受基體厚度的影響。
3，邊緣效應，在接近試片邊緣或內轉角處實行測量是不的，校正試片盡量在試片中心以節減誤差。
3，測量件曲率，試件的曲率對測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小顯著增大。因而不應在試件超出允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
5，被測物體外表面粗糙度，基體金屬和外表面粗糙度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙外表面會致使系統誤差和偶爾誤差，每次測量時，在不同地方上應添加測量的次數，以克制這種偶爾誤差。假如基體金屬粗糙，還必需在未涂覆的粗糙度相似的基體金屬試件上取幾個位置校正磁性涂層測厚儀的零點；或用對基體金屬沒有侵蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校正磁性涂層測厚儀的零點。
6，磁場，被測物體四周磁場會預擾磁性測量，影響鐵基涂層測厚儀精度。
7，附著物質，鐵基涂層測厚儀對那些阻礙探頭與覆蓋層外表面嚴密接觸的附著物質敏感。因而必需消除附著物質，以保障探頭與覆蓋層外表面直接接觸。
8，測量進程中探頭的置放，探頭的放的方式對測量有影響，在測量中使探頭與試樣外表面維持垂直。這是鐵(tie)基涂層測厚儀（其余測厚儀，如超聲波測厚儀也是這樣）測量中要注意的問題。
9，試片的變形及試片本身的誤差，探頭使軟覆蓋層試件變形，因而在這些試件上會呈現一定的誤差。
10，測量次數，關于數據要求經度較高的測量要進行幾次測量求平均值，精度要求更高的可以多臺儀器測量求平均值。
11，還有一些(xie)其它不確(que)定要素。