(1)附(fu)(fu)著(zhu)物(wu)(wu)質(zhi)的(de)影響。本(ben)儀(yi)器對那些妨礙探頭(tou)與覆(fu)(fu)蓋層(ceng)表(biao)面(mian)緊密接觸(chu)的(de)附(fu)(fu)著(zhu)物(wu)(wu)質(zhi)敏(min)感。因此必(bi)須清除(chu)附(fu)(fu)著(zhu)物(wu)(wu)質(zhi)，以保證探頭(tou)與覆(fu)(fu)蓋層(ceng)表(biao)面(mian)直接接觸(chu)。在(zai)進行系(xi)統校(xiao)準時，選擇(ze)的(de)基(ji)體的(de)表(biao)面(mian)也必(bi)須是(shi)裸露(lu)的(de)、光滑的(de)。

(2)強(qiang)磁場的干擾。我(wo)們曾(ceng)做過一個(ge)簡單實(shi)驗，當儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時，測量會(hui)受到嚴重(zhong)的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能(neng)會(hui)發生(sheng)死機現象。

(3)人(ren)為(wei)因素。這中情況經常會發生在(zai)新用戶(hu)的(de)身上。涂層測厚儀之所(suo)以能夠測(ce)量(liang)到(dao)微米級就(jiu)因為(wei)它(ta)能夠采取磁(ci)(ci)通量(liang)的(de)(de)微小變化，并(bing)把它(ta)轉化成為(wei)數字信號。在(zai)使(shi)用儀器測(ce)量(liang)過(guo)程中如果(guo)用戶對(dui)本(ben)儀器不熟悉就(jiu)可能使(shi)探頭偏離被測(ce)機(ji)體，使(shi)磁(ci)(ci)通量(liang)發(fa)生變化造成錯誤測(ce)量(liang)。所(suo)以建議(yi)用戶朋友初次使(shi)用本(ben)儀器時，要先掌握好測(ce)量(liang)方法。探頭的(de)(de)放(fang)置方式對(dui)測(ce)量(liang)有(you)很大影響，在(zai)測(ce)量(liang)中應使(shi)探頭與試(shi)樣表面(mian)保持(chi)垂直。并(bing)且探頭的(de)(de)放(fang)置時間不宜過(guo)長，以免造成基體本(ben)身磁(ci)(ci)場的(de)(de)干擾。

(4) 在(zai)系(xi)統(tong)校準時沒有選擇合適(shi)的(de)基(ji)體(ti)。基(ji)體(ti)zui小平(ping)面為7mm，zui小厚度(du)為0.2mm，低于此臨界條件測(ce)量是不可靠的(de)。

(5)儀器發生故障。此時可以和技術人員交流或者返廠維修。