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涂層測厚儀測量原理及分類

更新時間:2010-12-01      點擊次數:3379

對材料表面起保護,裝飾作(zuo)用(yong)的(de)覆(fu)蓋層(ceng),如(ru)涂層(ceng),鍍層(ceng),敷層(ceng),貼層(ceng),化學生成膜等,在一些國(guo)家和標(biao)準(zhun)中稱(cheng)為覆(fu)層(ceng)(coating)。  

    覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確要求。 
    覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。 
    X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
    隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用zui廣泛的測厚儀器。 
    采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經濟地進行。
 
一. 磁吸力測量原理及測厚儀
 
    *磁鐵(測頭)與導磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關系,這個距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測厚儀,只要覆層與基材的導磁率之差足夠大,就可進行測量。鑒于大多數工業品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測厚儀應用zui廣。測厚儀基本結構由磁鋼,接力簧,標尺及自停機構組成。磁鋼與被測物吸合后,將測量簧在其后逐漸拉長,拉力逐漸增大。當拉力剛好大于吸力,磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產品可以自動完成這一記錄過程。不同的型號有不同的量程與適用場合。
 
這種儀器的特點是操作簡便、堅固耐用、不用電源,測量前無須校準,價格也較低,很適合車間做現場質量控制。 
二. 磁感應測量原理 
    采用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭,測量感應電動勢的大小,儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術,利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路,引入微機,使測量精度和重現性有了大幅度的提高(幾乎達一個數量級)。現代的磁感應測厚儀,分辨率達磁感應測厚儀_電渦流測量原理_磁吸力測量原理及測厚儀_電渦流原理的測厚儀到0.1um,允許誤差達1%,量程達10mm。
 
    磁性原理測厚儀可應用來測量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業的各種防腐涂層。 
三. 電渦流測量原理 
    高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較,主要區別是測頭不同,信號的頻率不同,信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣,渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。
 
采用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可測量,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體,但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適.
四、塑膠產(chan)品上涂層(ceng)厚度的測量問題(ti)
1.用轉移法測(ce)量(liang)塑膠產(chan)品上涂層時的(de)注意(yi)事項(xiang)
   對塑膠產品(pin)上(shang)涂(tu)層(ceng)(ceng)的測量。如使(shi)用(yong)超(chao)聲(sheng)波(bo)發(fa)測量時,經常因涂(tu)層(ceng)(ceng)與基材(cai)發(fa)生相(xiang)溶而(er)沒有(you)較好的聲(sheng)波(bo)反射面,從而(er)導致測量失敗或讀(du)(du)值嚴重(zhong)偏(pian)差。如使(shi)用(yong)切鍥法,也多有(you)使(shi)用(yong)不方便和讀(du)(du)數困難的地方。
      所以目前便攜式電子產(chan)品(pin)生(sheng)產(chan)廠普(pu)遍使用轉移(yi)法測量塑膠產(chan)品(pin)上涂層。
      我們(men)經過(guo)多年實踐,推薦先在產品上蓋若干小條(tiao)標準厚(hou)度的(de)聚酯薄膜(50微米左右,我公司有專門定制供應),再(zai)用紙基(ji)美(mei)紋膠帶壓(ya)住兩(liang)頭,留出中間部(bu)分。將該產品(pin)放入噴涂線上正常噴涂、烘烤。
      產品完工后,取下留有漆膜(mo)的(de)(de)聚酯(zhi)薄膜(mo),用鐵零(ling)板(ban)(或鋁零(ling)板(ban))做(zuo)基板(ban)用磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)(或電(dian)渦流(liu)法)膜(mo)厚儀(yi)分(fen)別測(ce)量有涂(tu)層的(de)(de)部(bu)分(fen)和無涂(tu)層的(de)(de)部(bu)分(fen),兩者之差就是涂(tu)層厚度(du)。由于采用同一塊(kuai)零(ling)板(ban),所以(yi)電(dian)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)參考點不(bu)會發生變化,從而保(bao)證(zheng)了(le)測(ce)量基準不(bu)變,保(bao)證(zheng)了(le)測(ce)量的(de)(de)準確。另外,特別是因采用了(le)差別法,所以(yi)儀(yi)器和零(ling)板(ban)的(de)(de)誤差都(dou)會因相(xiang)減而抵消。這樣(yang)就大大降低(di)了(le)對(dui)零(ling)板(ban)和儀(yi)器精度(du)的(de)(de)要(yao)求。  
  
也有部分工廠仍采(cai)用粘貼鐵片(pian)(pian)和(he)鋁片(pian)(pian)的方法,需要注意的是每(mei)塊鐵片(pian)(pian)或鋁片(pian)(pian)表面粗糙度不同、凸(tu)凹變(bian)(bian)形、厚薄(bo)變(bian)(bian)化等(deng)會造(zao)成電磁感應參考點發(fa)生變(bian)(bian)化,這樣可能會造(zao)成測量(liang)誤差(cha)加大和(he)重復(fu)性較差(cha)。需要注意避免。
2.涂層(ceng)厚(hou)度測量的其他問(wen)題
a. 涂層烘(hong)烤固化(hua)后,還有一個(ge)繼續(xu)固化(hua)的(de)緩慢(man)過程,因條件限制(zhi), 工廠一般取下產(chan)品后就會測量。如過一兩天后再測,往(wang)往(wang)厚度會少(shao)1~3微米。
b. 至于(yu)切(qie)(qie)片(pian)(pian)法測厚,制備切(qie)(qie)片(pian)(pian)則非常重要。由于(yu)基材(cai)和涂(tu)層(ceng)都較軟,切(qie)(qie)割變(bian)形可能造(zao)成涂(tu)層(ceng)向基材(cai)方向或(huo)基材(cai)向涂(tu)層(ceng)方向擠(ji)壓侵占,從而(er)造(zao)成讀數(shu)偏(pian)大或(huo)偏(pian)小。
   另外油漆噴涂(tu)過(guo)程是(shi)液(ye)態點(dian)(dian)狀濺射至基材后,經流(liu)平、交(jiao)聯、成膜固化。斷(duan)面(mian)一定是(shi)表面(mian)有起(qi)伏狀態,外觀(guan)上看則(ze)呈(cheng)現出桔皮現象。轉移法(fa)測厚是(shi)在平面(mian)上隨機取(qu)點(dian)(dian),或再(zai)取(qu)平均數,切片法(fa)是(shi)在切割處的一條直線(xian)斷(duan)面(mian)上顯(xian)微目(mu)視讀數。兩者(zhe)因取(qu)點(dian)(dian)方法(fa)不同、位置(zhi)不同,兩者(zhe)讀數會有不同。但兩者(zhe)有互相(xiang)參考價值(zhi),可(ke)分(fen)析對比找出原因。
 
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