首先，了解下用(yong)表面鍍層測(ce)厚儀測(ce)量準(zhun)確需要什么條件(jian)，具體為以下幾點(dian)：

　　1.基(ji)(ji)(ji)體(ti)金屬(shu)特性(xing)。對(dui)于(yu)磁性(xing)方法，標準片的(de)基(ji)(ji)(ji)體(ti)金屬(shu)的(de)磁性(xing)和表(biao)面粗糙度(du)，應當與試(shi)件(jian)基(ji)(ji)(ji)體(ti)金屬(shu)的(de)磁性(xing)和表(biao)面粗糙度(du)相似(si)。對(dui)于(yu)渦流方法，標準片基(ji)(ji)(ji)體(ti)金屬(shu)的(de)電性(xing)質，應當與試(shi)件(jian)基(ji)(ji)(ji)體(ti)金屬(shu)的(de)電性(xing)質相似(si)。

　　2.基體金屬厚(hou)度(du)。檢查基體金屬厚(hou)度(du)是(shi)否(fou)超過(guo)臨界厚(hou)度(du)，無損(sun)檢測資源網 如果沒有(you)，可(ke)采用3.3中(zhong)的某(mou)種方法進行校(xiao)準。

　　3.讀數(shu)次數(shu)。通常由于(yu)儀器的每(mei)次讀數(shu)并不*相同，因此必須在每(mei)一測量(liang)面(mian)積內取幾個(ge)讀數(shu)。覆蓋(gai)層(ceng)厚(hou)度的局部差異，也(ye)要求在任一給(gei)定的面(mian)積內進行多次測量(liang)，表面(mian)粗造時更應如此。

　　4.邊緣(yuan)效應(ying)。不應(ying)在緊靠試(shi)件的突(tu)變處(chu)，如(ru)邊緣(yuan)、洞和內轉角(jiao)等處(chu)進行測量。

　　5.曲率(lv)。不應在試(shi)件的彎曲表面上測量。

　　6.表(biao)面(mian)清潔度。測量(liang)前，應(ying)清除表(biao)面(mian)上的(de)任(ren)何附著物(wu)(wu)質，如塵(chen)土(tu)、油(you)脂及腐蝕產物(wu)(wu)等，但不要除去(qu)任(ren)何覆蓋層物(wu)(wu)質。

　　了解了表面鍍層測厚儀的(de)測量(liang)準(zhun)確條件，再來看看哪些因素會(hui)影響表面鍍層測厚儀的(de)測量(liang)。

　　使用磁(ci)性(xing)(xing)原理和渦流原理的表面(mian)(mian)鍍層測(ce)厚儀都是基(ji)于被測(ce)基(ji)體的電、磁(ci)特(te)性(xing)(xing)及與(yu)探頭的距離來測(ce)量覆層厚度(du)的，所以，被測(ce)基(ji)體的電磁(ci)物(wu)理特(te)性(xing)(xing)與(yu)物(wu)理尺寸都要影(ying)響(xiang)磁(ci)通與(yu)電渦流的大小。即(ji)影(ying)響(xiang)到測(ce)量值(zhi)的可靠性(xing)(xing)，下面(mian)(mian)就(jiu)這方面(mian)(mian)的問題作一下介紹。

　　1、邊(bian)(bian)界(jie)間距如(ru)果探頭與(yu)被測(ce)體(ti)邊(bian)(bian)界(jie)、孔眼、空腔、其他截(jie)面變化處的(de)間距小于(yu)規定的(de)邊(bian)(bian)界(jie)間距，由于(yu)磁(ci)通或(huo)渦(wo)流載體(ti)截(jie)面不夠將導(dao)致測(ce)量(liang)誤(wu)差。如(ru)必須(xu)測(ce)量(liang)該點的(de)覆層厚度，只有預先在相同條件的(de)無(wu)覆層表面進行校準(zhun)，才(cai)能測(ce)量(liang)。

　　2、基體(ti)表面曲率在一個平直的對比(bi)試樣上校(xiao)準好(hao)一個初始(shi)值，然后在測(ce)量覆層厚度后減去這個初始(shi)值。或參照下條。

　　3、基體金屬zui小厚度基體金屬必須有一個給定的zui小厚度，使探頭的電磁場能*包容在基體金屬中，zui小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質有關，在這個厚度之上剛好可以進行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進行對比來確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點而對測量值作相應的修正或參考第2條修正。而那些可以標定的儀器通過調整旋鈕或按鍵，便可以得到準確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的表面鍍層測厚儀，如前所述。

　　4、表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面粗(cu)(cu)糙(cao)(cao)度和表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面清潔度在粗(cu)(cu)糙(cao)(cao)度表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面上(shang)為(wei)獲得(de)一個有代表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)性的平均測量(liang)值必須進行(xing)多(duo)次測量(liang)才(cai)行(xing)。顯而易見，不(bu)論是基體或(huo)是覆層，越粗(cu)(cu)糙(cao)(cao)，測量(liang)值越不(bu)可靠。為(wei)獲得(de)可靠的數據，基體的平均粗(cu)(cu)糙(cao)(cao)度Ra應小于覆層厚度的5%。而對(dui)于表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面雜質(zhi)，則應予去(qu)除(chu)。有的儀(yi)表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)上(shang)下限，以剔除(chu)那(nei)些(xie)“飛點”。

　　5、探(tan)頭測(ce)量板(ban)的(de)(de)作用力探(tan)頭測(ce)量時(shi)的(de)(de)作用力應是(shi)恒定的(de)(de)。并應盡可能(neng)小。才不致(zhi)使軟的(de)(de)覆層發生形(xing)變，以(yi)致(zhi)測(ce)量值下降。活產生大的(de)(de)波(bo)動，必要時(shi)，可在兩者之(zhi)間墊(dian)一層硬(ying)的(de)(de)，不導電的(de)(de)，具(ju)有一定厚度(du)(du)的(de)(de)硬(ying)性薄膜(mo)。這樣通過(guo)減去薄膜(mo)厚度(du)(du)就能(neng)適當地得到(dao)剩磁。

　　6、覆(fu)層(ceng)材料(liao)中(zhong)的(de)(de)(de)鐵(tie)磁(ci)成份和導電成份覆(fu)層(ceng)中(zhong)存在(zai)(zai)某(mou)些鐵(tie)磁(ci)成分，如某(mou)種(zhong)顏料(liao)時，會對(dui)測(ce)量值(zhi)產生影響，在(zai)(zai)這種(zhong)情況下(xia)，對(dui)用作校(xiao)準的(de)(de)(de)對(dui)比(bi)試(shi)樣覆(fu)層(ceng)應具有與被測(ce)物覆(fu)層(ceng)相同的(de)(de)(de)電磁(ci)特性，經(jing)校(xiao)準后(hou)使(shi)用。使(shi)用的(de)(de)(de)方法(fa)(fa)可以是將同樣的(de)(de)(de)覆(fu)層(ceng)涂(tu)在(zai)(zai)鋁或銅板試(shi)樣上，用電渦流法(fa)(fa)測(ce)試(shi)后(hou)獲得對(dui)比(bi)標準試(shi)樣。

　　7、外(wai)界(jie)(jie)恒磁場、電磁場和基體剩磁應該避免在有干擾作用的(de)外(wai)界(jie)(jie)磁場附近(jin)進行測(ce)量。殘存的(de)剩磁，根據檢(jian)測(ce)器的(de)性能可能導(dao)致或(huo)多(duo)或(huo)少的(de)測(ce)量誤差，但是如結構鋼，深沖(chong)成形(xing)鋼板(ban)等(deng)一(yi)般不(bu)會出(chu)現上述現象。

　　以上介紹了如何使用表面鍍層測厚儀測量更(geng)準確，更(geng)多關(guan)于(yu)表(biao)面(mian)鍍層測厚儀的信息，咨詢!